| 第24回マイクロエレクトロニクス研究会（2012/11/10）プログラム |
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会場：戦災復興記念館 記念ホール
10：00〜10：50
「1/f Noise in Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors」
東北大学 Philippe Gaubert
10：50〜11：40
「バースト1Tpixel/sと連続780Mpixel/sの撮像速度を有するグローバルシャッタ高速CMOS
イメージセンサ」
東北大学 栃木 靖久
12：30〜13：20
「SiO2/Si(100)界面における組成遷移層の解明｣
東北大学 諏訪 智之
13：20〜14：10
「Si表面の原子オーダ平坦化技術と高信頼性UV光センサへの応用」
東北大学 黒田 理人
14：10〜15：00
「Al2O3保護膜の開発」
東北大学 松尾 裕之
15：20〜16：20
（招待講演）「BCMと国際標準」
早稲田大学 中島 一郎
16：20〜17：40
「シリコンLSI性能向上の新しい方向」
東北大学 大見 忠弘
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過去の研究会プログラムおよび発表論文
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【第23回マイクロエレクトロクス研究会： 2011/11/12 仙台市戦災復興記念館】